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高加速寿命试验是检验电子和机械装配件设计缺陷和不足的过程
高加速寿命试验是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限，从而优...
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